dft 源码搜索结果, 第87页, Verysource

单片机与DSP中的DFT滤波器组设计并分析要求设计并分析一个JVf＝2的DFT滤波器组，所用原型滤波器为Ho（z）=2+3z-1+3z-2+2z-3。　　该DFT滤波器组在图1中给出，可以看到其中包含一对多相滤波器和一个2点DFT。该DFT滤波器组沿顶部路径测得的冲激响应为{2,3,3,2}，对应为ho[k]。沿底部路径测得的冲激响应为{2,3,3,2}，对应为h1[k]。　　图1 M=2时DFT滤波器组的频率及冲激响应　　欢迎转载，信息来自维库电子市场网（www.dzsc.com）来源:ks99
DFT的快速算法分析及MATLAB实现.pdf 数字信号处理课程设计报告 DFT 的快速算法分析及MATLAB 实现专业通信工程班级组次姓名薛龙学号目录摘要2 关键词2 Abstract2 Keywords2 0 引言2 1 频域抽取法基 2FFT 的基本原理2 2 DIF-FFT 的运算规律及编程思想 4 2.1 原位计算4 2.2 序列的倒序4 2.3 旋转因子的变化规律 5 2.4 蝶形运算规律6
第三章离散傅里叶变换(DFT)及其快速算法(FFT).doc 第三章离散傅里叶变换(DFT)及其快速算法(FFT) (081027) 3.1在变换区间内计算以下序列的N点DFT (4) (5) (7) 解(4) (5) 当时故当时故最后得到 (7) 当时故当时; ; ; 故 ; 当时, ; 故当时; ; ; 故最后得到
DFT-10复杂体系的O(N)算法.ppt * 第10章复杂体系的O(N)算法 1引言 2O(N)算法的物理基础量子力学局域性 3O(N)算法的基本策略 4DFT框架下的O(N)算法 5计算流程和主要步骤 * 1引言 Order-N算法或O(N)算法的必要性目前DFT第一性原理计算方法如fplapw, fplmto, Car-Parrinello, 从头赝势以及许多量子化学计算方法对于由大量原子组成的复杂体系已经不能满足需要原因是以
第三章离散傅里叶变换(DFT)及其快速算法-庄讲义教材.ppt 序列循环卷积运算框图序列的长度分别为N和M 则证明 DFT的频域循环卷积定理 L L 7. 离散巴塞伐尔定理1 序列的长度为N DFT 则 7. 离散巴塞伐尔定理2 证明序列在时域计算的能量等于其在频域计算的能量 3.3 频域采样时域采样定理采样频率大于等于奈奎斯特采样频率可以由离散信号恢复原来的连续信号频域采样定理频域抽样呢抽样条件内插公式任意序列x(n)其Z变换为若
第三章_离散傅里叶变换(DFT)及其快速算法(FFT).pdf 第三章离散傅里叶变换(DFT) 及其快速算法(FFT) 33.11 离散傅里叶变换的定义及物理意义离散傅里叶变换的定义及物理意义 3.2 DFT的主要性质 3.3 频域采样 3.4 DFT的快速算法快速傅里叶变换(FFT) 33.55 DFT(FFT)DFT(FFT)应用举例应用举例 33.11 离散傅里叶变换的定义及物理意义离散傅里叶变换的定义及物理意义时间域模拟域频率域 t :连续
《DFT-10复杂体系的O(N)算法》.ppt DFT-10复杂体系的O(N)算法 * 1引言 Order-N算法或O(N)算法的必要性目前DFT第一性原理计算方法如fplapw, fplmto, Car-Parrinello, 从头赝势以及许多量子化学计算方法对于由大量原子组成的复杂体系已经不能满足需要原因是以上传统方法的数值运算工作量操作数Nat3即体系的原子数增加一倍必须消耗8倍cpu时间研究计算操作数与体系原子数成比例的方法即O(
第2章 DFT及其快速算法.ppt 第1章离散时间信号系统和z变换第2章 DFT及其快速算法第3章数字滤波器设计第4章离散随机信号的处理;第2章 DFT及其快速算法;2-1 周期序列;例设x(n)如图所示求;混叠失真;补充傅里叶变换的四种基本形式;1连续时间与连续频率连续傅里叶变换;4离散时间与离散频率离散傅里叶级数;第一个域;2-2. 离散傅里叶级数DFS ;DFS 变换对 ;2-1 周期序列;3周期序列的周期卷积
DFT算法与FFT算法的优劣分析.doc DFT算法与FFT算法的优劣分析一概述在谐波分析仪中我们常常提到的两个词语就是DFT算法与FFT算法那么一款功率分析仪/谐波分析仪采用DFT算法或者FFT算法用户往往关注的是能否达到所要分析谐波次数的目的而并未考虑两种算法之间有什么不同采用相关算法的依据下面就来介绍一下两种算法的不同以及适用的一些场合 DFT算法是连续傅里叶变换在时域和频域上都离散的形式将时域信号的采样变换为在离散时间傅里
单片机与DSP中的基于扫描的DFT对芯片测试的影响基于扫描的DFT对芯片测试的影响 http:www.guangdongdz.com 2006-05-06 引言随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂，与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中,如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT(可测性设计)通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测性的逻辑，从而使芯片变得容易测试，大大降低了芯片的测试成本。目前比较成熟的可测性设计 ...

关键字：dft