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提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法
文件大小： 126k
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资源说明：在实际的DFT设计中，存在对测试覆盖率有较大损害的两种情况：一种存在于数字逻辑-模拟逻辑（包括存储器）输入-输出处之阴影部分，另一种存在于特定的多芯片封装情况下未绑出的输入-输出焊垫处。二者的共同点在于：测试模式下部分逻辑的不可控或不可观测。
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