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资源说明：在集成电路设计领域，Design for Testability (DFT) 是一种重要的设计流程，旨在增强芯片的可测试性，以便于在制造后进行有效的故障检测和隔离。"dft设计的重点内容.docx"文档主要讨论了DFT设计的关键步骤，特别是如何使用DFT Compiler添加扫描链的过程。以下是这些步骤的详细说明：
1. **Test Configure**：
这一步骤主要涉及配置测试相关的参数，如时钟、输入延迟、双向延迟和测试选通时间。在TCL脚本中，`set test_default_period`用于设置默认测试周期，`set test_default_delay`设定输入延迟，`set test_default_bidir_delay`定义双向延迟，而`set test_default_strob`则用于设置测试选通信号的宽度。
2. **Scan Configure**：
扫描链配置是DFT设计的核心，它决定了如何组织和操作电路中的扫描路径。`set_scan_configuration`命令允许指定一系列参数来定制扫描链的行为。例如：
- `-add_lockup`控制是否添加锁定防止电路进入未知状态。
- `-chain_count`或`-max_length`等选项定义扫描链的长度。
- `-clock_mixing`参数控制如何处理不同时钟域的扫描链，如`no_mix`, `mix_edges`, `mix_clocks`等。
- `-style`选项用于选择触发器类型，如`multiplexed_flip_flop`，在低功耗设计中可能使用门控扫描触发器。
其他如`-exclude_elements`, `-voltage_mixing`, `-power_domain_mixing`等参数则涉及如何处理电源混合、时钟混合以及特定元素的排除。
3. **DFT Configure**：
这一步通常包括全局DFT策略的设置，比如是否启用边界扫描，多电压测试，以及隔离和级联的策略。
4. **Specify**：
在这个阶段，设计者可能会定义一些特定的测试要求，如边界扫描测试、模态扫描测试等。
5. **Preview**：
预览阶段用于检查配置后的DFT结构，确保满足设计目标。
6. **Synthesize**：
进行综合步骤，将DFT结构与原始设计合并，生成最终的可测试逻辑电路。
在扫描链配置中，选择`-style multiplexed_flip_flop`意味着使用多路复用触发器，以减少扫描链的开销。`-clock_mixing no_mix`强制扫描链上的触发器在同一时钟域内，而`mix_edges`或`mix_clocks`允许不同边沿或不同时钟的触发器，通常为了平衡扫描链的延迟。`-preserve_multibit_segment`选项则是为了保持多比特段的完整性，防止其在扫描过程中被拆分。
在实际应用中，DFT设计不仅要考虑到测试的全面性和有效性，还要兼顾设计的功耗、面积和速度等因素，因此这些配置参数的选择需要根据具体设计需求进行权衡。通过精细的DFT配置，可以大大提高集成电路的测试效率，降低测试成本，从而提高整个产品的质量和可靠性。
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