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元器件应用中的利用单片机消除热电阻测量误差

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资源说明：利用单片机消除热电阻测量误差张学峰江苏食品职业技术学院机电工程系江苏淮安 223001 半导体热电阻结构简单，其电阻值大，反应速度快，灵不受外界的影响，但是正常采用的热敏电阻是具有负温度特性的非线性元器件，且输出电势比较小，必须经过放大才能满足ADC的输入要求，放大电路的误差主要来源于放大器的失调电压和增益Av的漂移，本文介绍单片机对上述测量误差进行修正的方法。1 对半导体热敏电阻非线性的影响热敏电阻负温度特性的非线性，其关系如下：Rr=AEB/T 此非线性使得他很难用相关的电路来进行补值，在使用有微处理器的系统中很好的解决这个问题。实践证明因电路的离散性直接使用此公式的误差很大，使

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